電子元件在制造過程中,鍍層的質(zhì)量與穩(wěn)定性會(huì)直接影響電子產(chǎn)品的使用壽命和性能。儀景通手持光譜儀可以幫助我們準(zhǔn)確、快速地選擇合適的電子元件鍍層。
儀景通手持材料元素光譜儀采用了X射線熒光光譜分析技術(shù),它可以通過對(duì)物質(zhì)表面發(fā)射或反射的光譜進(jìn)行分析,快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)出物質(zhì)中的元素種類和含量。在電子元件鍍層檢測(cè)中,手持光譜儀可以快速識(shí)別鍍層材料的種類和厚度,從而判斷鍍層的質(zhì)量。
電子元件鍍層檢測(cè),手持光譜儀如何選擇光圈類型和探測(cè)器類型?
光圈類型,選擇準(zhǔn)直器還是毛細(xì)管光學(xué)機(jī)構(gòu)?
選擇光圈類型,取決于光斑大小,對(duì)于小于50m的零件,建議選擇毛細(xì)管光學(xué)機(jī)構(gòu),若大于此尺寸,準(zhǔn)直器配置可能會(huì)更合適。
探測(cè)器類型,選擇比例計(jì)數(shù)器還是硅漂移探測(cè)器?
比例計(jì)數(shù)器由惰性氣體封裝于金屬圓柱體中構(gòu)成,當(dāng)惰性氣體受到X射線轟擊時(shí)會(huì)發(fā)生電離。它們對(duì)像錫或銀這樣的高能量元素有很好的靈敏度,對(duì)于元素較少的簡(jiǎn)單分析非常有效。
手持光譜儀具備豐富的功能和應(yīng)用場(chǎng)景,可以用于對(duì)電子元件、金屬制品、環(huán)保材料等多種樣品進(jìn)行分析檢測(cè)。無(wú)論是對(duì)鍍層的厚度、成分,還是對(duì)材料中有害元素的檢測(cè),該儀器都能勝任。它還支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)和導(dǎo)出,方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和報(bào)告生成。
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